В Крыму рассказали об ухищрениях россиян по "контрабанде" бензина
17:11
Бастрыкин требует доклад о массовом отравлении в ресторане в Якутии
16:46
С 1 июля 2026 внедряются новые правила передачи показаний счетчиков воды: что изменится
16:40
Чехию возмутило отсутствие реакции ЕС на закон Зеленского о русском языке
16:36
С 1 июля появились новые ограничения для тех, у кого не установлен MAX
16:22
Труп неопознанного мужчины нашли на необитаемом острове в Норвегии
16:10
В Киеве задержали экс-министра энергетики Крыма Колобова
15:44
Скандальный боец ММА Юнусов погиб на СВО
15:27
Комик-иноагент, уехавший из России, развенчал главные мифы о США
15:14
Оппозиция в Армении анонсировала тайный план по смещению Пашиняна
15:14
Появились первые снимки нового ЗРК "Риф" на Украине
14:19
Московские врачи достали из носа ребенка 16 магнитов
14:10
Раскрыта связь Зеленского с раненым при взрыве в Монако украинским олигархом
13:38
Только четверть: в ВШЭ подсчитали, сколько потребителей защищают свои права
13:29
Анфиса Чехова улетела в Нью-Йорк ради собаки и пожаловалась на жизнь
13:18

Ученые ВШЭ подтвердили температурную устойчивость микролазеров нового поколения

27 февраля, 21:00
Общество

StolicaMedia, 27 февраля. Исследователи Международной лаборатории квантовой оптоэлектроники НИУ ВШЭ — Санкт-Петербург доказали стабильную работу InGaN/GaN микролазеров при повышенных температурах. Полученные результаты расширяют перспективы применения фотонных технологий для передачи данных внутри электронных устройств. Об этом говорится в пресс-релизе НИУ ВШЭ, который имеется в распоряжении ИА StolicaMedia.

Специалисты Международной лаборатории квантовой оптоэлектроники НИУ ВШЭ — Санкт-Петербург представили результаты исследования, посвященного температурной устойчивости InGaN/GaN микролазеров. Научная работа опубликована в журнале "Научно-технические ведомости СПбГПУ. Физико-математические науки".

Современные цифровые технологии требуют снижения энергопотребления и повышения эффективности передачи информации. Одним из перспективных направлений считается переход от электрических соединений внутри микросхем к оптическим каналам передачи данных. В этой области особый интерес вызывают микродисковые лазеры на основе нитридов III группы — соединений галлия и азота, а также их сплава с индием. Такие материалы отличаются высокой термостойкостью, химической стабильностью и возможностью интеграции с кремниевыми фотонными платформами.

Полетают даром: для 1 категории россиян внедрили 50% скидку на авиабилеты с 1 марта

Стажер-исследователь НИУ ВШЭ — Санкт-Петербург Дмитрий Масютин совместно с учеными Института физики имени Б. И. Степанова НАН Беларуси, НТЦ микроэлектроники РАН и Физико-технического института имени А. Ф. Иоффе РАН изучил влияние температуры на работу микролазеров, созданных на кремниевой подложке. В ходе эксперимента микродиск диаметром пять микрометров нагревали до 100 градусов Цельсия, моделируя условия эксплуатации электронных устройств. Лазер запускался с помощью внешнего источника света, обеспечивающего оптическую накачку.

Результаты показали, что устройства сохраняют способность к генерации излучения даже при значительном нагреве. Смещение длины волны оказалось минимальным — всего два нанометра, а пороговая мощность накачки практически не изменилась, оставаясь в диапазоне 245–255 мкВт. Это свидетельствует о высокой стабильности работы микролазеров.

"Температурная стабильность — критически важный для полупроводниковых лазеров параметр. Нагревание может приводить к увеличению порога и сильному изменению длины волны лазерной генерации. Устойчивость этих параметров в диапазоне от 25 до 100 градусов позволит использовать лазеры в повседневной жизни без дополнительного охлаждения", — сказал стажер-исследователь НИУ ВШЭ — Санкт-Петербург Дмитрий Масютин.

По мнению ученых, результаты исследования приближают внедрение InGaN/GaN микролазеров в массовую электронику. В будущем фотонные схемы на их основе могут повысить эффективность суперкомпьютеров, электротранспорта и медицинского оборудования, одновременно снижая энергозатраты и стоимость производства устройств.
 
 
 

233994
121
185